随着电力电子技术和新能源产业的发展,对电源控制器(MCU)性能、可靠性和安全性要求提升。传统测试方法难以满足现代电源控制系统开发需求,硬件在环(HIL)测试技术成为电源MCU开发的重要验证手段。EasyGo推出的MCU+HIL测试方案,特别适用于开关电源、谐振变换器等复杂拓扑的测试需求。 一、EasyGo HIL+MCU方案 本方案针对电源控制器 MC...
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